Разрабатываются численные модели переноса носителей заряда в полупроводниковых приборных структурах микро- и наноэлектроники на основе метода Монте-Карло, а также соответствующие алгоритмы и компьютерные программы. Разработанные программные комплексы используются для расчета электрофизических свойств и электрических характеристик современных ИМС. Полученные результаты находят применение при разработке и проектировании современной элементной базы микро- и наноэлектроники, предназначенной, в частности, для космической и высоконадёжной электроники.
Основные публикации:
- Borzdov, A.V. Efficiency of terahertz harmonic generation in GaAs quantum wire structure: a Monte Carlo simulation / A. V. Borzdov, V. M. Borzdov, V. A. Labunov, V. V. V'yurkov // Proc. SPIE. – 2019. – V. 11022. — P. 110220L-1–110220L-5.
- Borzdov, A. V. Monte Carlo simulation of terahertz harmonic generation in GaAs quantum wire structure / A. V. Borzdov, V. M. Borzdov, V. A. Labunov // International Journal of Materials. – 2017. – Vol. 4. – Р. 70 73.
- A.V. Borzdov, V.M. Borzdov, V.V. Vyurkov Monte Carlo simulation of picosecond laser irradiation photoresponse of deep submicron SOI MOSFET // // Proc. SPIE. — 2022. — Vol. 12157. — P. 121570Y-1–121570Y-6.
- Borzdov, A.V. Monte Carlo simulation of pulsed laser irradiation effect on electrical characteristics of submicron SOI MOSFET / A.V. Borzdov, V.M. Borzdov // Interaction of Radiation with Solids: Proceedings of the 13th International conference, Minsk, Belarus, September 30 – October 3, 2019 / ed.: V. V. Uglov [et al.]. — Minsk: BSU, 2019. — P. 23–25.
Сотрудничество:
- Физико-технологическим институтом Российской академии наук, г. Москва, Россия.